一、基础信息

个人简介：张思全，男，汉族，1971年9月生，中共党员，博士研究生学历，副教授。主要从事现代检测技术与智能传感教学研究工作，曾主持国家自然科学基金课题，发表多篇相关学术论文。

（一）个人基础信息

性别：男

出生年月：1971年9月

职务：副教授

博硕导：硕士生导师

电子邮箱：sqzhang@shmtu.edu.cn

（二）教育经历

2008年6月于华南理工大学材料加工工程专业，取得博士学位；

2004年6月于广东工业大学控制理论与控制工程专业，取得硕士学位；

1994年6月于兰州大学电子学与信息系统专业，取得本科学位。

（四）国际交流与合作经历

2014.9至2015.10前往美国阿克隆大学(The University of Akron)，任访问学者。

二、科学研究

（一）研究领域及科研团队

研究领域：控制科学与工程/检测技术与自动化装置，仪器科学与技术/测试计量技术及仪器，基于电磁、超声等的材料无损检测与评价技术，智能检测、智能感知与智能仪器技术。

（二）科研项目

电磁阵列旋转扫描定量检测复杂导电结构多裂纹的理论研究，国家自然科学基金面上项目（51175321），2012-2015，主持。

（三）代表性论文成果

[1] Siquan Zhang. Investigation of Flux Transfer along Ferrite Core of Probe Coil for Eddy Current Nondestructive Evaluation[J]. MEASUREMENT SCIENCE REVIEW, 2023, 23(1): 11-18.

[2] Siquan Zhang, Chenkai Ye. Model of Ferrite-cored Driver-pickup Coil Probe Application of TREE Method for Eddy Current Nondestructive Evaluation [J]. ACES JOURNAL, 2022, 37(5):632-638.

[3] Siquan Zhang. Analytical model of a T-core coil above a multi-layer conductor with hidden hole using the TREE method for nondestructive evaluation [J]. COMPEL-The international journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, 2021, 40(6):1104-1117.

[4] Siquan Zhang. Analytical Model of an I-core Coil for Nondestructive Evaluation of a Conducting Cylinder below an Infinite Plane Conductor [J]. MEASUREMENT SCIENCE REVIEW, 2021, 21(4):99-105.

[5] Siquan Zhang. An Analytical Model of a New T-cored Coil Used for Eddy Current Nondestructive Evaluation [J]. ACES JOURNAL, 2020, 35(9):1099-1104.

[6] 张思全. 磁芯位置对涡电流探头阻抗变化影响的解析分析[J].传感技术学报, 2020, 33(6):791-795.

[7] Siquan Zhang, Nathan Ida. CALCULATION MODEL FOR THE INDUCED VOLTAGE IN RECTANGULAR COILS ABOVE CONDUCTIVE PLATES [J]. FACTA UNIVERSITATIS Series: Electronics and Energetics, 2017, 30(1):27-38.

（四）代表性专利成果

[1]2018年5月29日，一种检测导电结构缺陷的柔性阵列涡流探头及检测方法。专利号201510258489.7，获国家发明专利（第一发明人）

[2]2017年11月7日，一种用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置。专利号201510231277.X，获国家发明专利（第一发明人）

[3]2017年6月16日，一种金属管道内表面缺陷的涡流检测。专利号201210538859.9，获国家发明专利（第一发明人）

[4]2016年1月13日，一种旋转磁场涡流检测探头。专利号201310447635.1，获国家发明专利（第一发明人）

[5]2015年12月2日，检测复杂导电结构表面缺陷的涡流阵列探头及系统。专利号201310446770.4，获国家发明专利（第一发明人）

三、教学信息

（一）授课信息

主讲本科生课程：检测技术与传感器， 测控系统与电路， 应用光学等。